Лаборатория «Нанотрибологии и морфологии поверхности»

Данная лаборатория оснащена современным комплексом научного и аналитического оборудования в области исследования научного и аналитического оборудования в области исследования наноразмерных структур на сегодняшний день.

В состав комплекса входит следующее оборудование:

1.Лазерный интерференционный микроскоп МИМ-310

IMG_0111

Исследования геометрического рельефа, поляризационных и физических свойств кристаллических и полупроводниковых наноструктур

 

 

 

 

2.Сканирующий нанотвердомер НаноСкан-3D

IMG_0101

Исследование рельефа и структуры поверхностей; измерение механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) методами наноиндентирования и склерометрии

 

 

 

 

3.Профилометр Stylys Profiler Dektak 150

IMG_0104Предназначен для:
• измерения шероховатости поверхности,
• измерения высоты ступенек,
• планарности и прогиба пластин,
• деформаций, возникающих при нанесении тонких пленок,
• котроля качества микросхем и мелко-траншейной изоляции.
Позволяет увеличить толщину образца до 6 дюймов, длину скана – до 55 мм, максимальную высоту рельефа – до 512. Повторяемость измерений высоты ступени улучшена до 6 Ангстрем.

 

4.Аналитико-технологический комплекс NTI

IMG_0106Атомно-силовая микроскопия; Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия;
Конфокальная КР микроскопия;
Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия;
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ);
Зондово-усиленная КР / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS)

 

 

IMG_3487

Заявка на выполнение работ (услуг) для подразделений РУДН

Заявка на выполнение работ (услуг) для сторонних организаций

Заявка на выполнение работ (услуг) для частных лиц

ИНФОРМАЦИЯ ОБ УСЛУГАХ